%0 Journal Article
%T SF6中绝缘子表面电荷积聚及其对直流GIL闪络特性的影响
%A 张博雅
%A 王强
%A 张贵新
%A 李金忠
%J 高电压技术
%P 1481-1487
%D 2015
%R 10.13336/j.1003-6520.hve.2015.05.009
%X 随着中国特高压直流输电工程建设进程的逐渐加快，直流气体绝缘输电线路(GIL)的需求日益迫切，对GIL在特高压直流下一些关键问题的研究显得至关重要。因此针对直流电压下GIL中盆式绝缘子表面电荷积聚问题展开研究，建立了一套基于静电探头法的表面电荷测量系统，研究了在SF6气体环境中，不同电压幅值和电压极性反转情况下绝缘子表面电荷的积聚规律。同时，在特高压直流GIL试验单元上进行了直流闪络试验，研究了绝缘子表面电荷积聚对直流闪络特性的影响。研究结果表明在0.5MPa的SF6中，绝缘子表面主要积聚与所加直流电压极性相反的电荷，这种电荷分布将增大绝缘子表面与中心电极间的局部场强，并将进一步导致绝缘子闪络;GIL中盆式绝缘子的直流耐受电压仅为交流耐受电压的64%左右。该研究为GIL中盆式绝缘子在直流电压下闪络电压下降提供了一种可能的解释。
%K 表面电荷
%K 绝缘子
%K SF6
%K 气体绝缘
%K GIL
%K 特高压直流
%K 闪络
%K 静电探头
%U http://hve.epri.sgcc.com.cn/CN/abstract/abstract201.shtml