%0 Journal Article
%T 超声阵列矢量全聚焦裂纹识别及影响参数研究
%A 焦敬品*常予孙欣蓉何存富吴斌
%J 南京大学学报(自然科学)
%D 2015
%R 10.13232/j.cnki.jnju.2015.07.014
%X 针对工业结构中裂纹缺陷的定位和方向识别问题，发展了一种基于超声阵列技术的矢量全聚焦成像方法。在修正的全聚焦成像基础上，提出了一种利用子阵列在聚焦点处矢量方向判断缺陷方向的方法，并将其应用于不同角度裂纹的方向识别。对单裂纹civa仿真模型进行了全矩阵数据采集和矢量全聚焦成像，研究发现，子阵列检测参数对裂纹方向识别具有不同程度的影响。因此，提出了子阵列检测参数的最优组合，可同时应用于多裂纹试块的缺陷定位和方向识别。
%K 裂纹
%K 超声阵列
%K 矢量全聚焦
%K 子阵列
%U http://jns.nju.edu.cn/oa/DArticle.aspx?type=view&id=201508019