银膜表面等离子体耦合辐射特性的仿真分析

表面等离子体耦合辐射(spce)是传统表面等离子体共振(spr)的逆过程:当分子足够靠近金属薄膜表面时(<200nm),其受激辐射的能量可以耦合成spr模式并定向辐射到棱镜中.由于具有场增强特性、高收集效率和优异的表面选择性,spce作为一种新的表面分析技术已经在荧光和拉曼光谱领域得到了有效的应用.本文采用光学互易定理简化传统spce的计算方法.通过计算,我们得到了spce一维和二维辐射功率密度分布,表面选择性,辐射角的波长色散特性,辐射角半峰宽与银膜厚度的关系.仿真结果与已报到的实验结果吻合良好,验证了该方法的有效性.